대한전자공학회
The Institute of Electronics and Information Engineers
【운영위원회】
| 운영위원장 | 김한구 교수/마스터(삼성전자) |
| 운 영 위 원 | 김석진 수석(삼성전자), 김동선 전문위원(LG디스플레이), 김용래 부장(콘티넨탈오토모티브), 김창수 수석(삼성전자), 설병수 수석(삼성전자), 승만호(SK Hynix), 오윤철 수석(삼성Display), 유용훈 대표(Core Insight), 전찬희 마스터(삼성전자), 정도영 전문위원(한화시스템) |
【세부프로그램】 ※ 자료집은 PDF로 제공됩니다.
1일차 10월 19일(목) 오전 9시 ~ 오후 5시 10분
| 시간 | 주제 | 연사 |
| 09:00~09:30 | 워크샵 등록 | |
| 09:30~09:40 | 환영사 | 대한전자공학회 반도체소사이어티 회장 (김진상 교수) |
| Session 1 | 정전기 및 ESD/EOS에 대한 기본적인 이해 | 김한구 교수 (삼성전자공과대학교) |
| 09:40~10:50 | . ESD와 EOS의 기본 개념 . EMC EMI, and EMS . 정전기의 기본적인 개념 . Electronegativity . 정전기의 Control 방법 |
|
| 10:50~11:00 | Coffee Break | |
| 11:00~12:00 | . ESD Models . Extended CDM Models . HBM ESD Tester Issues . History of HBM and System-Level ESD |
|
| 12:00~13:30 | 중식 | |
| Session 2 | EOS/ESD 특성 평가 및 FA Methodology | 김창수 수석 (삼성전자) |
| 13:30~15:00 |
. ESD/EOS 평가 규격 및 Equipment 소개
. ESD/EOS Model 별 Test Methodology . ESD/EOS Failure Symptoms . Failure Analysis Methodology . Off-Chip ESD Protection |
|
| 15:00~15:20 | Coffee Break | |
| Session 3 | CDM Basics and Application | 김한구 교수 (삼성전자공과대학교) |
| 15:20~17:00 | . CDM Basic and Application . CDM Simulation . Wafer-Level CDM Test . Low-Impedance CDM Test |
|
| 17:00~17:10 | 공지 사항 | 워크샵 위원장 (김한구 교수) |
2일차 10월 20일(금) 오전 9시 ~ 오후 5시 10분
| 시간 | 주제 | 연사 |
| Session 4 | Component-Level ESD/EOS 보호 소자 | 김한구 교수 (삼성전자공과대학교) |
| 09:00~10:20 | . IP/IC 설계자들을 위한 ESD/EOS 보호 개념 . ESD 보호 소자의 종류 및 장단점 . TLP/HBM/CDM 평가의 문제점과 해결 방향 |
|
| 10:20~10:40 | Coffee Break | |
| Session 5 | EOS/ESD Field Damage Case Study |
김한구 교수
(삼성전자공과대학교) |
| 10:40~12:00 | . ESD Damage due to induced Polarization of Dielectric Material . Long Journey to confirm with EOS Damage . EOS/ESD Damages in FPD Assembly Line |
|
| 12:00~13:30 | 중식 | |
| Session 6 | How to solve ESD tester problems and analyze ESD discharge waveforms | Masanori Sawada (일본 HANWA) |
| 13:30~15:30 | . Relay-Based HBM ESD 장비의 기생 용량(Parasitic Capacitance) 문제를 해결한 G5000 장비 소개 . ESD Event 시, Discharge 과정에서의 전류 파형과 전압 파형에 대한 분석 |
|
| 15:30~15:50 | Coffee Break | |
| Session 7 | System-Level & Factory-Level ESD/EOS | 김한구 교수 (삼성전자공과대학교) |
| 15:50~17:00 | . System-Level ESD 평가의 이해 및 Issue 사항들 . Factory-Level ESD/EOS 불량 원인과 해결 방향 . ESD Industry Council 현황 및 향후 계획 |
|
| 17:00~17:10 | 폐회사 | 워크샵 위원장 (김한구 교수) |
【등록비】
| 구분 | 일반 | 학생 |
| 사전등록 | 350,000원 | 200,000원 |
| 현장등록 | - | - |
【등록안내】
| 사전등록마감 | 2023년 10월 16일(월)까지 |
| 결제 방법 | ㆍ온라인카드결제 및 계좌이체 |
| 입금계좌정보 | ㆍ입금계좌: 1010-2143-7671 수협 또는 186-00027-241 한국씨티은행 ㆍ예금주: 대한전자공학회 |
| 참고청구문서 | ㆍ 대한전자공학회 사업자등록증 사본 (클릭 다운로드 -PDF) ㆍ 등록비 입금통장사본 (클릭 다운로드-PDF) |
| 등록방법 및 기타안내 |
ㆍ 본 워크샵(세미나)는 고용노동부 지원교육 환급대상에 해당되지 않습니다. * 일부 발표자료가 상이할 수 있습니다. |
【영수증 및 계산서 발급안내】
| 결제방법 | 카드영수증 | 계산서(전자) | 거래명세서 |
| 카드결제 | 가능(온라인 출력) | 불가능(이중발급) | 기본발행 |
| 계좌이체무통장 결제 | 불가능 | 가능(전자) | 기본발행 |
ㆍ 웹 카드결제시, 전표출력 웹사이트 : 모빌페이(구 KG올앳) 바로가기-클릭 후 (중간 상자 오른쪽 "결제고객전용 > 신용카드결제조회")
【문의처】
ㆍ 담 당: 대한전자공학회 김천일 부장ㆍ 연락처 : 02-553-0255 (내선1번) / 팩스 : 02-552-6093
ㆍ 이메일 : webmaster@theieie.org
【운영위원회】
| 운영위원장 | 김한구 교수/마스터(삼성전자) |
| 운 영 위 원 | 김석진 수석(삼성전자), 김동선 전문위원(LG디스플레이), 김용래 부장(콘티넨탈오토모티브), 김창수 수석(삼성전자), 설병수 수석(삼성전자), 승만호(SK Hynix), 오윤철 수석(삼성Display), 유용훈 대표(Core Insight), 전찬희 마스터(삼성전자), 정도영 전문위원(한화시스템) |
【세부프로그램】
1일차 10월 19일(목) 오전 9시 ~ 오후 5시 10분
| 시간 | 주제 | 연사 |
| 09:00~09:30 | 워크샵 등록 | |
| 09:30~09:40 | 환영사 | 반도체소사이어티 회장 (김진상 교수) |
| Session 1 | 정전기 및 ESD/EOS에 대한 기본적인 이해 | 김한구 교수 (삼성전자공과대학교) |
| 09:40~10:50 | . ESD와 EOS의 기본 개념 . EMC EMI, and EMS . 정전기의 기본적인 개념 . Electronegativity . 정전기의 Control 방법 |
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| 10:50~11:00 | Coffee Break | |
| 11:00~12:00 | . ESD Models . Extended CDM Models . HBM ESD Tester Issues . History of HBM and System-Level ESD |
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| 12:00~13:30 | 중식 | |
| Session 2 | EOS/ESD 특성 평가 및 FA Methodology | 김창수 수석 (삼성전자) |
| 13:30~15:00 |
. ESD/EOS 평가 규격 및 Equipment 소개
. ESD/EOS Model 별 Test Methodology . ESD/EOS Failure Symptoms . Failure Analysis Methodology . Off-Chip ESD Protection |
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| 15:00~15:20 | Coffee Break | |
| Session 3 | CDM Basics and Application | 김한구 교수 (삼성전자공과대학교) |
| 15:20~17:00 | . CDM Basic and Application . CDM Simulation . Wafer-Level CDM Test . Low-Impedance CDM Test |
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| 17:00~17:10 | 공지 사항 | 워크샵 위원장 (김한구 교수) |
2일차 10월 20일(금) 오전 9시 ~ 오후 5시 10분
| 시간 | 주제 | 연사 |
| Session 4 | Component-Level ESD/EOS 보호 소자 | 김한구 교수 (삼성전자공과대학교) |
| 09:00~10:20 | . IP/IC 설계자들을 위한 ESD/EOS 보호 개념 . ESD 보호 소자의 종류 및 장단점 . TLP/HBM/CDM 평가의 문제점과 해결 방향 |
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| 10:20~10:40 | Coffee Break | |
| Session 5 | EOS/ESD Field Damage Case Study |
오윤철 박사
(삼성디스플레이) |
| 10:40~12:00 | . ESD Damage due to induced Polarization of Dielectric Material . Long Journey to confirm with EOS Damage . EOS/ESD Damages in FPD Assembly Line |
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| 12:00~13:30 | 중식 | |
| Session 6 | How to solve ESD tester problems and analyze ESD discharge waveforms | Masanori Sawada (일본 HANWA) |
| 13:30~15:30 | . Relay-Based HBM ESD 장비의 기생 용량(Parasitic Capacitance) 문제를 해결한 G5000 장비 소개 . ESD Event 시, Discharge 과정에서의 전류 파형과 전압 파형에 대한 분석 |
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| 15:30~15:50 | Coffee Break | |
| Session 7 | System-Level & Factory-Level ESD/EOS | 김한구 교수 (삼성전자공과대학교) |
| 15:50~17:00 | . System-Level ESD 평가의 이해 및 Issue 사항들 . Factory-Level ESD/EOS 불량 원인과 해결 방향 . ESD Industry Council 현황 및 향후 계획 |
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| 17:00~17:10 | 폐회사 | 워크샵 위원장 (김한구 교수) |
【등록비】
| 구분 | 일반 | 학생 |
| 사전등록 | 350,000원 | 200,000원 |
| 현장등록 | - | - |
【등록안내】
| 사전등록마감 | 2023년 10월 16일(월)까지 |
| 결제 방법 | ㆍ온라인카드결제 및 계좌이체 |
| 입금계좌정보 | ㆍ입금계좌: 1010-2143-7671 수협 또는 186-00027-241 한국씨티은행 ㆍ예금주: 대한전자공학회 |
| 참고청구문서 | ㆍ 대한전자공학회 사업자등록증 사본 (클릭 다운로드 -PDF) ㆍ 등록비 입금통장사본 (클릭 다운로드-PDF) |
| 등록방법 및 기타안내 |
ㆍ 본 워크샵(세미나)는 고용노동부 지원교육 환급대상에 해당되지 않습니다. * 일부 발표자료가 상이할 수 있습니다. |
【영수증 및 계산서 발급안내】
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【문의처】
ㆍ 담 당: 대한전자공학회 김천일 부장ㆍ 연락처 : 02-553-0255 (내선1번) / 이메일 : webmaster@theieie.org