정전기 문제는 부지불식간에 우리 생활 주변 곳곳에 존재하고 있지만 산업계에서 이 문제가 본격적으로 Issue가 된 것은 1960년대 IC 개발 이후라고 볼 수 있다. IC가 등장하면서 전자산업은 부품과 모듈, 그리고 완제품에 이르는 분업의 시대가 시작되었으며, 정전기의 존재로 인해 발생하는 ESD 불량 관련 표준화(평가 방법 및 Spec.)가 이루어지면서 체계적으로 연구가 시작되었다. 또한, 1979년에 처음으로 ESD/EOS 관련 국제적인 학술대회가 개최되면서 문제가 상호 공유되고 기술적으로 성장할 수 있는 기반을 구축할 수 있었으며, 이 후 1980년대는 ESD/EOS 관련 문제도 많았지만 기술적으로 성장하는 시기였다고 할 수 있다. 1990년대에 들어서면서 안정화 단계에 있던 ESD/EOS 문제는 2000년을 전후하여 등장한 130nm 공정 이후 IC 설계의 복잡성 증가, 다양한 Analog IP들의 탑재 및 새로운 Package Type들이 적용되면서 새로운 국면을 맞이하게 되었으며, 아울러 IC에서 System-Level ESD/EOS 특성까지 강화할 것을 요구하는 고객들의 VOC가 증가하게 되면서 30년 가까이 유지되어 오던 ESD Spec.을 현실화할 수 밖에 없는 상황이 되었다. 2006년 Industry ESD Council이 설립되면서 전 세계의 ESD Engineer들의 Co-Work하는 계기가 되었고, 기존의 모든 자료들을 종합적이고 체계적으로 정리하고 이를 공유하게 됨으로써 ESD 기술의 상향 평준화가 이루어질 수 있었다. 그러나, ESD에 대해서 연구하는 학교는 국/내외를 불문하고 지속적으로 감소하고 있는 추세라고 할 수 있기에 이러한 Workshop을 통해서 산업계 뿐만 아니라 학계에도 관심을 가질 수 있는 기회가 되었으면 한다. 또한, CMOS를 이용한 IC가 개발되면서 필연적으로 나타난 문제가 Latchup Issue이며, 1980년대 내내 IC 신뢰성 항목 중에서도 수위를 차지하였지만 1990년 중반에 들어오면서 이 문제도 거의 해결되었다. Latchup Issue의 대부분이 PAD에 존재하는 ESD 보호 소자에 의해서 발생하기 때문에 ESD Engineer들의 업무로 받아들여지면서, ESD/EOS 및 Latchup 3가지 신뢰성을 함께 다루게 되었다. 오늘날 전자산업은 IC의 발전이 이끌고 있으며, 이를 바탕으로 우리가 상상할 수 없을 정도로 수많은 Application들이 선보이고 있는 중이며, 자동차도 전자제품의 하나로 포함될 수 있을 정도로 전자산업의 영역은 무한대로 확장되고 있는 중이다.

  이 모든 부분에서 정전기 제어 및 ESD/EOS 관련 불량 방지는 반드시 해결해야 하는 숙제이지만 IC 개발단계에서의 제조/Test/조립을 시작으로 Module/Set 개발단계에서의 조립/Test 및 이와 관련된 여러 가지 소재들과 각종 장비에 이르기까지 너무나 넓은 분야이기 때문에 대부분의 경우 자기가 담당하고 있는 분야는 잘 알고 있지만 모든 분야를 이해하는 것은 쉽지 않다. 따라서, 이번 Workshop을 시작으로 향후 학계와 산업계에서 이 분야에 대해서 함께 논의하고 연구할 수 있는 자리가 지속되었으면 한다.
 

대한전자공학회 회장 공준진
대한전자공학회 사업위원장 황인철

     o 장소 : 서울 코리아나호텔 (온.오프진행)

      o 운영위원장 :  김한구 교수/마스터(삼성전자)
      o 준비위원 :
        김석진 수석(삼성전자), 김동선 전문위원(LG디스플레이), 김용래 부장(콘티넨탈오토모티브),
        김창수 수석(삼성전자), 설병수 수석(삼성전자), 승만호(SK Hynix), 오윤철 수석(삼성Display),
        유용훈 대표(Core Insight), 전찬희 마스터(삼성전자), 정도영 전문위원(한화시스템)